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非接觸式電阻測(cè)試可保證被測(cè)試材料的實(shí)際薄膜電阻值偏差不超過(guò) 3%。以下圖表所展示的是根據(jù) 10 NIST、VLSI 和 MSA 標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試的 Delcom 計(jì)量器。

薄膜電阻測(cè)試用戶可以直接在材料上繪制網(wǎng)格圖形，或者將材料放入一個(gè)塑料信封并在信封上繪制網(wǎng)格圖形。然后用戶根據(jù)這些網(wǎng)格線遞增材料。